簡要描述:檢驗科高低溫試驗箱 測試高低溫試驗設(shè)備一款高低溫可靠性試驗箱,用于測試各類電子產(chǎn)品,電子元器件在高溫,低溫,高低溫恒溫,高低溫循環(huán),高低溫交變等溫度環(huán)境下使用或儲存時產(chǎn)品的適應(yīng)性及可靠性能。
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ |
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檢驗科高低溫試驗箱 測試高低溫試驗設(shè)備一款高低溫可靠性試驗箱,用于測試各類電子產(chǎn)品,電子元器件在高溫,低溫,高低溫恒溫,高低溫循環(huán),高低溫交變等溫度環(huán)境下使用或儲存時產(chǎn)品的適應(yīng)性及可靠性能。
檢驗科高低溫試驗箱 測試高低溫試驗設(shè)備技術(shù)參數(shù):
1、型號:AP-GD-800
2、內(nèi)箱容積:800L
3、內(nèi)箱尺寸:寬1000×高1000×深800mm
4、外形尺寸:寬1550×高2050×深1300mm
5、溫度范圍:低溫-70℃~高溫150℃
6、溫度波動度:≤±0.5℃
7、溫度均勻度:≤±2.0℃
8、升溫速率:約1.0℃~3.0℃/min
9、降溫速率:約0.8℃~1.5℃/min
10、電源要求:AC 380V/50HZ
箱體結(jié)構(gòu):
1、內(nèi)外箱體采用激光鐳射加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。
2、外箱采用SUS304#拉絲不銹鋼或A3冷軋鋼板靜電噴塑(由客戶選擇)。
3、內(nèi)箱采用SUS#304#不銹鋼制作。
4、設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
5、箱體右側(cè)配直徑50mm電纜孔,可供外接測試電源線或信號線使用。以便通電測試。
6、保溫材質(zhì)采用高密度玻璃纖維棉及聚氨酯發(fā)泡,厚度為100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條,以確保測試區(qū)的密封性。
7、試驗箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪及水平腳杯。
控制系統(tǒng)優(yōu)勢及操作畫面:
采用由愛佩公司自主研發(fā)的AP-890型可程式微電腦溫濕度控制器:7英寸中英文真彩觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制,USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲存裝置.
優(yōu)勢一:大屏幕逼真彩色畫面:TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)
優(yōu)勢二:人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng),操作簡單易學(xué),功能強大,并可于LCD畫面上了解程序設(shè)定之曲線及監(jiān)測過程;
優(yōu)勢三:PV曲線/組曲線:實時表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲存的曲線,表示組曲線及進(jìn)行狀態(tài);
優(yōu)勢四:可設(shè)定程序120組,1200段,循環(huán)次數(shù)可達(dá)999次,每段時間zui大設(shè)定99小時59分;
優(yōu)勢五:提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數(shù)據(jù),使用便捷;還可選配RS485接口,RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視。
優(yōu)勢六:具有程序修正、清除、預(yù)約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;
優(yōu)勢七:畫面保護(hù)器功能,程式運行時可以設(shè)定操作條件,一個段次的運行時間(530小時59分),每段可以設(shè)定待機開關(guān),定值zui大999999小時;
優(yōu)勢八:具有多種報警功能,故障發(fā)生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障;
優(yōu)勢九:把記錄錯誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、中國語;
優(yōu)勢十:BMP文件表示:通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件。
加熱系統(tǒng):
1、采用遠(yuǎn)紅外鎳合金高速加溫(2KW×2)電加熱器。
2、高溫*獨立系統(tǒng),不影響低溫試驗、高溫試驗及交變濕熱。
3、溫濕度控制輸出功率均由微電腦演算,以達(dá)高精度及高效率之用電效益。
保護(hù)系統(tǒng):
1、超溫保護(hù)
2、風(fēng)機過熱保護(hù)
3、整體設(shè)備欠相/逆相保護(hù)
4、制冷系統(tǒng)過載保護(hù)
5、制冷系統(tǒng)超壓保護(hù)
6、整體設(shè)備定時
7、其它還有漏電、運行指示,故障報警后自動停機等保護(hù)。
符合標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
GJB150.3 高溫試驗
GJB150.4 低溫試驗
GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
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