高低溫試驗(yàn)箱服務(wù)

簡(jiǎn)要描述：高低溫試驗(yàn)箱服務(wù)擁有高質(zhì)感外觀，箱體采圓弧造型，表面經(jīng)霧面條紋處理，并采用平面無(wú)反作用把手，操作容易，安全可靠。長(zhǎng)方形復(fù)層玻璃觀視窗，可在測(cè)試進(jìn)行時(shí)或試驗(yàn)中進(jìn)行試驗(yàn)品觀察使用，視窗具防汗電熟器裝置可防止水氣凝結(jié)水滴，及高亮度PL螢光燈保持箱內(nèi)照明。

產(chǎn)品型號(hào)AP-GD
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-09
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高低溫試驗(yàn)室

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房電子產(chǎn)品老化箱高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備冷凍箱老化箱溫度變化的儀器恒溫機(jī) 冷熱循環(huán)測(cè)試箱恒溫老化試驗(yàn)箱交變溫度檢測(cè)設(shè)備高低溫老化試驗(yàn)箱溫度低溫箱實(shí)驗(yàn)溫箱大型高低溫試驗(yàn)室房高低溫測(cè)試機(jī) 恒定濕熱試驗(yàn)箱低溫試驗(yàn)箱高低溫交變?cè)囼?yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱深圳高低溫濕熱箱高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱可程式高低溫試驗(yàn)箱

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詳細(xì)介紹

品牌	愛(ài)佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	1萬(wàn)-2萬(wàn)
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)

高低溫試驗(yàn)箱服務(wù)擁有高質(zhì)感外觀，箱體采圓弧造型，表面經(jīng)霧面條紋處理，并采用平面無(wú)反作用把手，操作容易，安全可靠。長(zhǎng)方形復(fù)層玻璃觀視窗，可在測(cè)試進(jìn)行時(shí)或試驗(yàn)中進(jìn)行試驗(yàn)品觀察使用，視窗具防汗電熟器裝置可防止水氣凝結(jié)水滴，及高亮度PL螢光燈保持箱內(nèi)照明。箱門雙層隔絕氣密迫緊，可有效隔絕內(nèi)部溫度泄漏。具有測(cè)試孔可外接測(cè)試電源線或信號(hào)線及上下可調(diào)整置物盤。制冷系統(tǒng)壓縮機(jī)采用“泰康”牌，更能有效去除冷凝管與毛細(xì)，制冷劑采用聯(lián)興環(huán)保冷媒(R404)；控制器采用進(jìn)口LCD顯示屏幕，可同時(shí)顯示測(cè)定值及設(shè)定值．時(shí)間?？刂破骶叨喽纬绦蚓庉嫾皽囟取?nèi)置式移動(dòng)滑輪便于移動(dòng)及擺放并具強(qiáng)力定位螺絲固定位置。
性能:
01、溫度范圍：D:-70℃～+150℃;C:-40℃～+150℃;B:-20℃～+150℃;A:0℃～+150℃;
02、解析精度：±0.01℃；
03、溫度波動(dòng)度：±0.5℃；
04、溫度偏差：≤±2.0℃；
05、極限低溫：-70℃；
06、極限高溫：150℃；
07、升溫速率：平均3℃/min(從+25℃升到+150℃、非線性空載)；
08、降溫速率：平均1℃/min(從+25℃降到-70℃、非線性空載)；
如不合適還可非標(biāo)定制:
型號(hào):AP-GD-80 內(nèi)型尺寸D×W×H400×500×400:(mm)
型號(hào):AP-GD-100內(nèi)型尺寸D×W×H500×500×400:(mm)
型號(hào):AP-GD-150內(nèi)型尺寸D×W×H500×600×500:(mm)
型號(hào):AP-GD-225內(nèi)型尺寸D×W×H500×600×750:(mm)
型號(hào):AP-GD-408內(nèi)型尺寸D×W×H600×850×800:(mm)
型號(hào):AP-GD-800內(nèi)型尺寸D×W×H600×850×800:(mm)
型號(hào):AP-GD-1000內(nèi)型尺寸D×W×H1000×1000×1000:(mm)
高低溫試驗(yàn)箱服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)配置:
1.多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套。
2.SUS304不銹鋼試品架2個(gè)。
3.不銹鋼可調(diào)間距試品架軌道2組。
4.測(cè)試引線孔（25、50、100mm）1個(gè)，附不銹鋼孔蓋一個(gè)，硅橡膠塞頭一個(gè)。
5.保險(xiǎn)絲一套。（易損件）
6.控制器使用說(shuō)明書(shū)一套、設(shè)備操作說(shuō)明書(shū)一套、檢驗(yàn)報(bào)告1份。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

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